SMC (統計的測定コントロール)

SMC（統計的測定コントロール）は、平均値を計算する前に、いくつかの測定値の統計分析を行い、測定値およびサンプルの品質を判断する方法です。 この計算には、平均値の安定性と平均値測定の「品質」の検証が含まれます。 SMCモードでは、テストは自動的に行われ、表示されます。

SMC機能を使用する時は、同一サンプル上の複数箇所を５回以上測定する必要があります。 測定の統計分析と標準偏差により、範囲外のデータを除去し、測定の許容範囲を設定します。 範囲内にあるデータが最低でも５回計測される必要があります。そうでない場合は、サンプルはバラツキが多すぎると判断されます。

SMCをコントロールする設定は2つあります。

SMC Read Limit – SMCで有効測定データを得るために、最大何回の測定を行うかを設定するためのモードです。 5～50回の測定で選択することができます。 工場出荷時は12回に設定されています。

SMC Grade Limit - SMCで基準とする有効測定データの範囲を変更します。 SMCに必要な測定数を変更するには偏差値を使用してください。 偏差値の許容範囲を増加させると、SMCの許容範囲が広がります。 偏差値の許容範囲を減少させると、SMCの許容範囲が狭くなります。 5.00～50.00の間で選択することができます。 工場出荷時のディフォルトは5.00に設定されています。通常のメタリックの仕上げにはこの設定が適しています。