Model # Unknown
ColorXRA G3
Nowy
Dla pomiarów współczynnika odbicia na podłożach szklanych.
- Bezdotykowo mierzy lustrzany współczynnik odbicia barw pod trzema kątami, co pozwala wykryć błędy
- Zamontowany na belce poprzecznej, aby rejestrować pomiary w kierunku poprzecznym.
- Połączony z rozwiązaniem ESWin QC w celu oceny jakości barwy.
Opis produktu
powtarzalność na lusterku kalibracyjnym
zgodność międzyurządzeniowa
Czas powtórzenia pomiaru
![ColorXRA G3-02]()
![ColorXRA G3-03]()
Specyfikacja
170
mm
![ColorXRA G3-04]()
480
mm
170
mm
480
mm
Wsparcie techniczne
Baza wiedzy
Oceń jakość i barwę powłoki na szkle
Ponieważ lustro nie rozprasza światła, konwencjonalne urządzenia pomiarowe z bezpośrednim oświetleniem nie są w stanie dostarczyć dokładnych danych barwy. Spektrofotometr ColorXRA G3 mierzy w zakresie od 330 nm do 1 000 nm z rozdzielczością optyczną 1 nm. W laboratorium urządzenie można zamontować na statywie do pomiaru tafli szkła leżącej na wsporniku próbki. Aby dokonać pomiaru w linii, spektrofotometr ColorXRA G3 można zamontować na belce poprzecznej nad szybą w celu pomiaru szkła niskoemisyjnego oraz pod szybą w celu pomiaru powłok przeciwsłonecznych.
<0.1
dE*
≤0.3
dL*, da*, db*
> 1
s
Oświetla zarówno zakres UV jak i światła widzialnego
Spektrofotometr ColorXRA G3 jest kompaktowym wielokątowym urządzeniem mierzącym w zakresie od 330 do 1000 nm z rozdzielczością optyczną 1 nm. Jest montowany 10 mm od tafli szkła i rejestruje dane spektralne, a także barwę próbek nierozpraszających światło pod 3 różnymi kątami tak, aby sprawdzić jakość nawet wielowarstwowych powłok srebra.
Sprawdź spójność barw pod różnymi kątami patrzenia
Spektrofotometr ColorXRA G3 wykorzystując ksenonową lampę błyskową co sekundę wykonuje pomiary produktów nierozpraszających światło, takich jak szkło powlekane, przy użyciu trzech geometrii jednocześnie +15°: -15°, +45°: -45° i +60°: -60°. Pomiar ±15° daje takie same odczyty jak w laboratorium przy pomiarze sferycznym. Pomiary ±45° i ±60° pokazują zmianę barwy pod różnymi kątami obserwacji.
Precyzyjny pomiar barwy w linii produkcyjnej
Dane widmowe od 330 nm do 1000 nm o rozdzielczości 1 nm dostarczają wiarygodnych informacji do kontrolowania procesu powlekania.
Krótkoterminowa stabilność i długoterminowa dokładność
Wykorzystuje rzeczywisty pomiar podwójnej wiązki i automatyczną kalibrację długości fali. Wymaga zewnętrznej kalibracji tylko co 4 tygodnie, aby zapewnić maksymalny czas pracy bez przestojów.
Działa w wymagających warunkach produkcyjnych
Zbudowany z myślą o trwałości, ColorXRA G3 jest wystarczająco wytrzymały zarówno dla obłożonych pracą laboratoriów jak i linii produkcyjnych bez uszczerbku dla dokładności pomiarów.
ColorXRA G3
Specyfikacja
Design/Premedia
Recepturowanie
Produkcja
Kontola jakości
Specyfikacja
| Measurement Geometry | 15°/15° 45°/45° 60°/60° |
| Measurement Time | flash |
| Measurement Working Distance | 10mm |
| Short Term Repeatability - White | dL*, da*, db* < 0.03 |
| Spectral Interval | 1nm |
| Spectral Range | 330nm - 1000nm |
Wsparcie techniczne
Baza wiedzy
