Model #: VS3200
Spektrofotometr stacjonarny MetaVue™ VS3200 bezdotykowy
Do kontroli jakości i pomiaru receptur
Bezkontaktowy spektrofotometr MetaVue™ VS3200 zapewnia przełomową wszechstronność i dokładność w pomiarach mokrych i suchych farb, tworzyw sztucznych, kosmetyków oraz próbek o małych i nietypowych kształtach.
Lider w branży do bezdotykowego pomiaru barwy
Dokładna i spójna barwa ma kluczowe znaczenie w przemyśle farb i powłok, tworzyw sztucznych, kosmetyków i nie tylko. Niezależnie czy mierzysz części z plastiku, kosmetyki lub powłoki ciekłe, nasze bezkontaktowe spektrofotometry do pomiaru barwy przyspieszają proces formułowania farb, kontrolę kolorów produkcyjnych i operacje kontroli jakości, zmniejszając ilość odpadów i przeróbek przy jednoczesnym skróceniu czasu cyklu. Jest to szczególnie ważne w środowiskach, w których przeprowadza się częste zmiany kolorów produkcyjnych.
Bezdotykowy spektrofotometr MetaVue VS3200 do pomiaru barwy zapewnia wszechstronne i dokładne pomiary. Jego unikalne możliwości usprawniają pomiary zarówno w laboratorium, jak i w ramach kontroli jakości. Trudne podczas pomiarów substancje jak farby, pasty oraz płyny mogą być mierzone bez narażania urządzenia pomiarowego na zabrudzenie lub, w ekstremalnych przypadkach, na uszkodzenie. X-Rite MetaVue VS3200 bez problemu mierzy rownież barwy z tworzyw sztucznych, tkanin, kosmetyków, porcelany, drewna oraz z żywności. Jest szczególnie polecany do działów kontroli jakości i laboratoriów producentów farb i lakierów, firm kosmetycznych oraz producentów chemii budowlanej (tynki wapienno-cementowe, tynki żywiczne, fugi, kleje, masy szpachlowe, masy bitumiczne, posadzki).
Korzyści:
- Charakteryzuje się elastycznością i łatwością użytkowania, z rozmiarami apertury od 2 do 12 mm, umożliwiając użytkownikom pomiar szerszej gamy próbek.
- Zapewnia precyzyjne pomiary, umożliwiając użytkownikowi szybkie i łatwe wybranie dokładnego obszaru docelowego do pomiaru.
- Umożliwia korzystanie z przechowywanych próbek obrazów, zapewniając użytkownikom ścieżkę audytu pomiarów i łatwe pobieranie obrazów do wykorzystania w przyszłości.
- Integruje się z istniejącymi precesami pracy, eliminując potrzebę budowania nowych baz danych. Wstecznie kompatybilny z danymi X-Rite vs450 i 964.
MetaVue VS3200 jest intuicyjny i łatwy w użyciu dzięki wysuwanemu, rozpoznającemu lokalizację pozycjonerowi próbki, co usprawnia pomiary. Jest również łatwy do czyszczenia. Integruje się z rozbudowanym oprogramowaniem Color imatch i Color iqc firmy X-Rite, zapewniając szybkie i dokładne formułowanie barwników i wydajne operacje kontroli jakości. Wśród adaptowalnych akcesoriów są: stojak na przyrządy do umieszczenia przyrządu 7,5 cm nad blatem z wymiennymi tacami, które można wsuwać w celu łatwego pomiaru past, proszków i płynów. Regulowany statyw do dokładnego pomiaru próbek o różnej grubości oraz stojak nablatowy, który przekształca przyrząd w blat z ramieniem do pomiaru próbek do pomiarów na przedmiotach, takich jak części z tworzyw sztucznych. Zawiera zielony kafelek kontrolny i certyfikat kalibracji. Użyj opcjonalnego oprogramowania NetProfiler, aby zweryfikować i zoptymalizować wydajność urządzenia.
Specyfikacja
| Aperture | 2mm to 12mm |
|---|---|
| Communication Interface | USB |
| Dimensions (length, width, height) | 9.75" W x 7.1" H x 7.25" D |
| Humidity | 0% to 85% (non-condensing) |
| Illumination Spot Size | 14 mm |
| Image Contact During Measurements | Non-Contact |
| Instrument Display | No Display |
| Inter-Instrument Agreement | 0.15 avg CIELAB |
| Light Source | Full spectrum LED |
| Measurement Cycle Time | < 8 seconds |
| Measurement Geometry | 45°/0° imaging spectophotometer |
| Measurement Spot | 2mm to 12mm |
| Measurement Working Distance | Up to 3.1mm |
| Package Dimensions (length, width, height) | 15.5" W x 11.5" H x 11.25" D |
| Photometric Range | 0% to 150% reflectance |
| Photometric Resolution | 10nm intervals |
| Reflectance Aperture(s) | 2mm to 12mm |
| Short Term Repeatability - White | 0.025 CIELAB |
| Spectral Analyzer | DRS filter wheel |
| Spectral Range | 400nm - 700nm @ 10nm intervals |
| Spectral Reporting | 400nm - 700nm @ 10nm intervals |
| Status Panel | Tri-Color LED |
| Storage Temperature Range | -20°C to 70°C |
| Unit Color | Black and Silver |
| Voltage | Universal power supply, 100-240 VAC |
| Weight | 5.55 pounds |
Featured Support
Firmware: Software:- NetProfiler 3 v3.5.4
- NetProfiler 3 v3.5.2
- MetaVue Firmware Loader r1_3_30836
- MetaVue Firmware Loader r1_2_1726
Featured Training
Seminar: Seminar: Seminar:Quick Compare
| Aperture | 2mm to 12mm | 12 mm and 6 mm | |
|---|---|---|---|
| Communication Interface | USB | USB 2.0 | USB |
| Dimensions (length, width, height) | 9.75" W x 7.1" H x 7.25" D | 26.4cm, 19.0cm, 22.0cm | 9.75" L x 6.0" W x 5.57" H |
| Humidity | 0% to 85% (non-condensing) | 5% to 85%, non-condensing | 0 to 85% RH, non-condensing |
| Illumination Spot Size | 14 mm | 14mm | Not published |
| Image Contact During Measurements | Non-Contact | Non-Contact | |
| Instrument Display | No Display | ||
| Inter-Instrument Agreement | 0.15 avg CIELAB | 0.20 ΔE*ab avg. | 0.15 DEab avg on BCRA tiles |
| Light Source | Full spectrum LED | Gas-filled tungsten lamp
+ UV LEDs* |
Full spectrum LED |
| Operating Temperature Range | 10°C to 40°C | 50° to 104°F (10° to 40°C) | 10° to 40° C |
| Measurement Cycle Time | < 8 seconds | ≈ 2 seconds | 1 second |
| Measurement Geometry | 45°/0° imaging spectophotometer | d/8° | 45/0 |
| Measurement Spot | 2mm to 12mm | 8mm | 12 mm and 6 mm |
| Photometric Range | 0% to 150% reflectance | 0 to 200% | 0 to 150% reflectance |
| Photometric Resolution | 10nm intervals | 0.01% | 10 nm intervals |
| Reflectance Aperture(s) | 2mm to 12mm | 1 | 12 mm and 6 mm |
| Short Term Repeatability - White | 0.025 CIELAB | .05 ΔE*ab on white ceramic | 0.025 max DEab at 12 mm 0.035 max DEab at 6 mm |
| Software Development Kit | Yes | XDS4 | Yes |
| Spectral Analyzer | DRS filter wheel | Blue-enhanced silicon photodiodes | 10 nm intervals |
| Spectral Interval | 10nm | ||
| Spectral Range | 400nm - 700nm @ 10nm intervals | 400nm-700nm | 400-700 nm @ 10 nm |
| Spectral Reporting | 400nm - 700nm @ 10nm intervals | 10nm | 400-700 nm @ 10 nm |
| Status Panel | Tri-Color LED | No status panel | |
| Storage Temperature Range | -20°C to 70°C | '-4° to 122°F (-20° to 50°C) | -20° to 70° C |
| Voltage | Universal power supply, 100-240 VAC | 100-240VAC 50/60Hz,
12VDC @ 2.5A |
Universal power supply, 100-240 VAC |
| Warm Up Time | None | 3 minutes | |
| Warranty | 12 months | 12 months | |
| Weight | 5.55 pounds | '5.2kg | 4.93 pounds |
Pozostałe treści
- MetaVue VS3200 Product Overview
Broszury
- Meet MetaVue™ VS3200: A Breakthrough Imaging Spectrophotometer
- MetaVue VS3200 - Measuring Color with Distance | X-Rite Webinar
- How to Evaluate Color on Small and Odd-Shaped Samples
- Conquer Unique Samples | X-Rite Webinar
- Is My Instrument Measuring Correctly? | X-Rite Color Measurement Webinar
- Cutting Edge Colour Matching for Paints & Plastics | X-Rite Webinar
- Digitalizacja łańcucha wartości tekstyliów | X-Rite
- Welcome to Color Measurement Geometry
- Nieskończony świat spektrofotometrów | X-Rite Webinar
- The Numbers Behind the Measurement | X-Rite Free Webinar
- Jak tworzyć materiały cyfrowe do prototypowania 3D w branży motoryzacyjnej | X-Rite
- Wirtualna wycieczka po centrum serwisowym siedziby głównej X-Rite
- How to Measure Unique Samples | X-Rite Webinar
- OCCA Advances in Hyperspectral Colour Measurement | X-Rite Webinar
- How to Minimize Color Matching Errors | X-Rite Webinar
- Barwa w świecie kosmetyków | X-Rite
- Define A Realistic Pass/Fail Tolerance | Watch X-Rite Free Webinar
- Define A Realistic Pass/Fail Tolerance | Watch X-Rite Free Webinar
- Define A Realistic Pass/Fail Tolerance | Watch X-Rite Free Webinar
- Virtual View X-Rite's Color Education and Training Services | X-Rite Webinar
- Specyfikacja barw | X-Rite Webinar
- Color Tolerancing 101: Understand Color Tolerances Like an Expert | X-Rite Webinars
- Dane spektralne 101: Jak komunikować barwę | X-Rite Webinar
Webinary
Wiadomości
Wydarzenia
Plast 2023
Join X-Rite Pantone at Plast 2023 on September 5-8 to meet our technical experts, learn about our color measurement solutions for the plastics and rubber industry, and ask questions.
CATIA Creative Design & ICEM Days
Join X-Rite Pantone at CATIA Creative Design & ICEM Days 2023 on June 13-14 to meet our technical experts, learn about our color measurement and appearance solutions, and ask questions.
AATCC Textile Discovery Summit 2023
Join X-Rite Pantone at AATCC’s Textile Discovery Summit 2023 on September 12-14 to learn about our innovative color measurement solutions for the textile industry, and ask our technical experts questions.
CAD RETEC 2023
Join X-Rite Pantone at CAD RETEC 2023 on September 18-20 to meet our technical experts, learn about our color measurement solutions for the plastics industry, and ask questions.
European Coatings Show
Dołącz do X-Rite Pantone na European Coatings Show 2023 w dniach 28-30 marca, aby spotkać się z naszymi ekspertami do spraw technicznych, poznać nasze rozwiązania w zakresie pomiaru barwy dla przemysłu farb i powłok oraz zadać pytania.