Nº de modelo: axf001

Appearance Exchange Format (AxF™)

A informação digitalizada é comunicada ao PANTORA™ Material Hub como arquivos Appearance Exchange Format (AxF). O formato de saída AxF é independente de fornecedor e pode ser facilmente acessado pela maioria dos principais aplicativos de gerenciamento do ciclo de vida do produto (PLM), design auxiliado por computador (CAD) e renderização de artes gráficas de última geração, de modo que os departamentos de design não precisam mudar sua infraestrutura de TI atual.

A X-Rite criou o formato de arquivo AxF™ para resolver uma série de problemas que dificultavam a captura e o gerenciamento de dados de aparência visual complexos em um único arquivo editável para aprovar o processo de virtualização.

Até hoje, as representações de aparências digitais eram altamente dependentes do sistema. Os materiais e shaders representam a aparência de superfícies e as propriedades de reflexão de objetos 3D, mas são criados usando shaders e linguagens de sombreamento específicos de um sistema. Quase todos os sistemas comerciais disponíveis são fornecidos com seus próprios modelos e especificações que não podem ser trocados ou convertidos facilmente. Na prática, muitos fluxos de trabalho de produção complexos dependem de diferentes pacotes de software e diferentes formatos devem ser usados em paralelo. Isso representa sérios problemas quando a medição da consistência de cor, imagem ou brilho, por exemplo, precisa ser alcançada.

Para resolver essa situação, uma representação padronizada para armazenar e comunicar aparências visuais complexas é necessária. Antes do AxF, não existia formato parecido para aparências, em contraste com medições de cores ou imagens. Como resultado, materiais e acabamentos de superfície eram comunicados e controlados usando amostras físicas pequenas e/ou padrões com problemas associados referentes à disponibilidade, aplicabilidade, generalidade, etc.


O AxF é um formato de arquivo digital binário que oferece uma representação de aparência padronizada com as seguintes características:

  • Não restrito a um dispositivo ou geometria de medição específicos

  • Compatível com representações de aparência contínua – como modelos BRDF paramétricos, mas também amostras discretas, como medições de BTF.

  • Escalável – garante o acesso eficiente a grandes volumes de dados de gigabytes ou mais.

  •  Extensível – extensões podem ser definidas sem prejudicar o suporte existente de aplicativos de terceiros.

  •  Portátil – um SDK está disponível para sistemas operacionais Windows e Linux, com um SDK Mac em desenvolvimento, para suportar fluxos de trabalho existentes e permitir a integração simples a aplicativos.

  •  Compatível - é fornecido com um conjunto integrado de representações materiais criado para oferecer compatibilidade com fluxos de trabalho baseados em SVBRDF.

  •  Compatível com representações de aparência contínua – como modelos BRDF paramétricos, mas também amostras discretas, como medições de BTF.

O AxF é o componente fundamental do Total Appearance Capture (TAC™) Ecosystem da X-Rite. Os arquivos AxF são usados para definir, armazenar e transferir materiais digitais entre outros componentes do ecossistema TAC que criam, armazenam, editam, comunicam ou apresentam visualizações. Em um fluxo de trabalho típico do TAC:

  • Amostras de materiais físicos são digitalizadas (Scanner TAC7 ou Serviço de digitalização X-Rite) para medir e criar especificações de materiais digitais altamente realistas e precisas em AxF.
  • Como alternativa, os arquivos AxF podem ser acessados a partir de catálogos de materiais digitais como o PantoneLIVE Cloud.
  • Os arquivos em AxF são armazenados e gerenciadas no PANTORA™ Digital Material Hub e podem ser distribuídos a partir dele para núcleos do Digital Material, integrações de plug-in com sistemas de 3D de terceiros incluindo o Autodesk VRED™ e Nvidia Iray® ou a Virtual Light Booth (VLB) da X-Rite.

Para obter mais informações sobre o AxF e o ecossistema TAC, Fale Conosco.

Treinamento

Online Training / eLearning: See All Training

Notícias e eventos

Eventos

Re'aD Summit 2017

Visit X-Rite at Re’aD Summit to see a live demonstration of the Total Appearance Capture (TAC™) ecosystem, an award-winning appearance measurement solution, and to hear Dr. Tobias Rausch speak about how virtual reality can revolutionize the product design and development process.

PI Apparel

Visit X-Rite at PI Apparel to see a live demonstration of the Total Appearance Capture (TAC™) ecosystem, an award-winning appearance measurement solution.


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