Modell-Nr. : axf001

Appearance Exchange Format (AxF™)

Dateien an den PANTORA™ Material Hub weitergeleitet. Da Dateien im anbieterunabhängigen AxF-Ausgabeformat von den meisten PLM- (Product Lifecycle Management), CAD- (Computer-Aided Design) und neuesten Wiedergabeanwendungen geöffnet werden können, müssen Designabteilungen keine Änderungen an ihrer aktuellen Informationssystem-Infrastruktur vornehmen.

X-Rite hat das AxF-Dateiformat zur Lösung der Probleme entwickelt, die die Erfassung und Verwaltung komplexer Daten zum visuellen Erscheinungsbild in einer einzigen, bearbeitungsfähigen Datei erschweren, um den Virtualisierungsprozess freizugeben.

Bislang hing die digitale Darstellung des Erscheinungsbilds stark vom jeweiligen System ab. Materialien oder Shader (Hardware- oder Softwaremodule zur Implementierung bestimmter Rendering-Effekte bei der 3D-Computergrafik) stellen die Oberflächenbeschaffenheit und Reflexionseigenschaften von 3D-Objekten dar, werden jedoch mit systemspezifischen Shadern und Shading-Sprachen erstellt. Fast alle handelsüblichen Systeme haben eigene Modelle und Spezifikationen, die sich nicht so ohne Weiteres austauschen oder umwandeln lassen. Da in der Praxis viele komplexe Produktions-Workflows von verschiedenen Softwarepaketen abhängen, müssen unterschiedliche Formate parallel verwendet werden. Dieser Umstand verursacht schwerwiegende Probleme in Bezug auf die notwendige Konstanz von Farb-, Bild- oder Glanzmessungen.

Zur Lösung dieses Problems ist eine einheitliche Darstellung zur Speicherung und Kommunikation komplexer Daten für das visuelle Erscheinungsbild notwendig. Vor der Entwicklung von AxF gab es kein derartiges Format für den Austausch solcher Daten. Daher mussten Material- und Oberflächenmuster ausgetauscht und anhand von kleinen physischen Proben und/oder Standards kontrolliert werden, was natürlich mit Problemen im Hinblick auf Verfügbarkeit, Anwendbarkeit, Allgemeingültigkeit usw. einherging.

Als binäres Dateiformat bietet AxF eine standardisierte Darstellung mit folgenden Merkmalen:

  • Keine Beschränkung auf ein bestimmtes Gerät oder eine bestimmte Messgeometrie
  • Unterstützung von kontinuierlichen Darstellungen – wie parametrische BRDF-Modelle (Bidirectional Reflection Distribution Function; bidirektionale Reflektanzverteilungsfunktion), jedoch separate Muster wie BTF-Messungen.
  • Skalierbar für den effizienten Zugriff auf große Datenmengen (mehrere Gigabyte).
  • Erweiterungsfähig ohne Beeinträchtigung vorhandener Drittanbieter-Anwendungen.
  • Portierbar, wobei zur Unterstützung vorhandener Workflows und zur einfachen Integration in vorhandene Anwendungen ein SDK für die Betriebssysteme Windows und Linux zur Verfügung steht und ein SDK für Mac noch entwickelt wird.
  • Kompatibel, da die integrierten Materialdarstellungen mit vorhandenen SVBRDF-basierten (Spatially Varying Bidirectional Reflectance Distribution Function; räumlich variierende bidirektionale Reflektanzverteilungsfunktion) Workflows vereinbar sind.

AxF ist die Basiskomponente des Total Appearance Capture (TAC) Ecosystem von X-Rite. Die AxF-Dateien dienen zum Definieren, Speichern und Übertragen von digitalen Materialien zwischen anderen Komponenten des TAC Ecosystem, die wiederum Visualisierungen erstellen, speichern, bearbeiten, übertragen oder darstellen. Typischer TAC-Workflow:

  • Zum Messen werden physische Materialproben gescannt (mit TAC7-Scanner oder X-Rite Scan-Service), um äußerst realistische und präzise digitale Materialspezifikationen in AxF zu erstellen.

  • Alternativ können vorhandene AxF-Dateien aus digitalen Materialkatalogen wie der PantoneLIVE Cloud abgerufen werden.

  • AxF-Dateien werden im PANTORA™ Digital Material Hub gespeichert und verwaltet und können von dort an so genannte Rendering Cores für digitale Materialien, Plug-ins von 3D-Rendering-Systemen von Drittanbietern, einschließlich Autodesk VRED™ und Nvidia Iray®, oder Virtual Light Booth von X-Rite verteilt werden.

 

Für weitere Informationen über AxF und das TAC Ecosystem setzen Sie sich bitte mit uns in Verbindung Kontakt.

Schulungen

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Neuigkeiten und Veranstaltungen

Veranstaltungen

Re'aD Summit 2017

Visit X-Rite at Re’aD Summit to see a live demonstration of the Total Appearance Capture (TAC™) ecosystem, an award-winning appearance measurement solution, and to hear Dr. Tobias Rausch speak about how virtual reality can revolutionize the product design and development process.

PI Apparel

Visit X-Rite at PI Apparel to see a live demonstration of the Total Appearance Capture (TAC™) ecosystem, an award-winning appearance measurement solution.


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